Чипы служат носителями интегральных схем, вырезанных из пластин. Они присутствуют в различных электронных устройствах, таких как смартфоны, ноутбуки, "умные" телевизоры, автомобили и центральные кондиционеры. Учитывая высокую степень интеграции и точность электронных компонентов, традиционные методы контроля часто не позволяют эффективно обнаруживать дефекты. Поэтому, Оборудование для рентгеновского контроля обычно используется для тщательного изучения сколов.
Ключ к использованию рентгеновского оборудования для обнаружения дефектов микросхем лежит в генерации рентгеновского излучения внутри Рентгеновская инспекционная машина для облучения внутренней структуры чипа. Рентгеновские лучи обладают сильной проникающей способностью, что позволяет им проникать сквозь микросхему и создавать изображения ее внутренней структуры. Этот метод позволяет обнаружить структурные трещины в микросхемах, не причиняя им никакого вреда, поэтому его называют неразрушающим контролем.
Оборудование для рентгеновского контроля микросхем использует принцип передачи рентгеновского излучения для проведения визуализации структуры проверяемого объекта в режиме реального времени. Оно широко используется в таких отраслях, как производство аккумуляторных батарей, технология поверхностного монтажа (SMT), производство светодиодов, обработка электронных изделий и обработка литья. Он эффективно анализирует дефекты внутренней структуры критических компонентов, предоставляя клиентам высококачественные изображения с высоким увеличением и высоким разрешением.
