{"id":48147,"date":"2024-04-20T10:29:00","date_gmt":"2024-04-20T10:29:00","guid":{"rendered":"https:\/\/silmantech.com\/?p=48147"},"modified":"2024-04-20T01:04:44","modified_gmt":"2024-04-20T01:04:44","slug":"the-application-of-x-ray-inspection-equipment-in-chip-defect-detection","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/silmantech.com\/pt\/the-application-of-x-ray-inspection-equipment-in-chip-defect-detection\/","title":{"rendered":"A aplica\u00e7\u00e3o de equipamento de inspe\u00e7\u00e3o por raios X na dete\u00e7\u00e3o de defeitos em pastilhas"},"content":{"rendered":"<p>As pastilhas s\u00e3o os suportes dos circuitos integrados, cortados a partir de bolachas. Est\u00e3o presentes em v\u00e1rios dispositivos electr\u00f3nicos, como smartphones, computadores port\u00e1teis, smart TVs, autom\u00f3veis e aparelhos de ar condicionado central. Dada a elevada integra\u00e7\u00e3o e precis\u00e3o dos componentes electr\u00f3nicos, os m\u00e9todos de inspe\u00e7\u00e3o tradicionais t\u00eam frequentemente dificuldade em detetar defeitos de forma eficaz. Por conseguinte, <a href=\"https:\/\/silmantech.com\/pt\/product\/x-ray-inspection-system\/\">Equipamento de inspe\u00e7\u00e3o por raios X<\/a> \u00e9 normalmente utilizado para o exame exaustivo das aparas.<\/p>\n\n\n\n<p>A chave para a utiliza\u00e7\u00e3o de equipamento de inspe\u00e7\u00e3o por raios X para a dete\u00e7\u00e3o de defeitos em pastilhas reside na gera\u00e7\u00e3o de raios X no interior da pastilha. <a href=\"https:\/\/silmantech.com\/pt\/product\/x-ray-inspection-system\/\">M\u00e1quina de inspe\u00e7\u00e3o por raios X<\/a> para irradiar a estrutura interna do chip. Os raios X t\u00eam uma forte capacidade de penetra\u00e7\u00e3o, o que lhes permite atravessar a pastilha e produzir imagens da sua estrutura interna. Este m\u00e9todo permite a dete\u00e7\u00e3o de fracturas estruturais em pastilhas sem causar qualquer dano, pelo que \u00e9 designado por ensaio n\u00e3o destrutivo.<\/p>\n\n\n\n<p>O equipamento de inspe\u00e7\u00e3o de raios X para chips utiliza o princ\u00edpio da transmiss\u00e3o de raios X para realizar a inspe\u00e7\u00e3o de imagens em tempo real da estrutura do objeto testado. \u00c9 amplamente utilizado em ind\u00fastrias como a das baterias recarreg\u00e1veis, Tecnologia de Montagem em Superf\u00edcie (SMT), fabrico de LED, processamento de produtos electr\u00f3nicos e processamento de fundi\u00e7\u00e3o. Analisa eficazmente defeitos na estrutura interna de componentes cr\u00edticos, fornecendo aos clientes imagens de alta qualidade, alta amplia\u00e7\u00e3o e alta resolu\u00e7\u00e3o com facilidade.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>As pastilhas s\u00e3o os suportes dos circuitos integrados, cortados a partir de bolachas. Est\u00e3o presentes em v\u00e1rios dispositivos electr\u00f3nicos, como smartphones, computadores port\u00e1teis, smart TVs, autom\u00f3veis e aparelhos de ar condicionado central. Dada a elevada integra\u00e7\u00e3o e precis\u00e3o dos componentes electr\u00f3nicos, os m\u00e9todos de inspe\u00e7\u00e3o tradicionais t\u00eam muitas vezes dificuldade em detetar defeitos de forma eficaz. Por conseguinte, o equipamento de inspe\u00e7\u00e3o por raios X \u00e9 normalmente utilizado para...<\/p>","protected":false},"author":3,"featured_media":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_stopmodifiedupdate":false,"_modified_date":"","footnotes":""},"categories":[1,92],"tags":[],"class_list":["post-48147","post","type-post","status-publish","format-standard","hentry","category-news","category-x-ray-inspection-system","category-1","category-92","description-off"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/silmantech.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/48147","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/silmantech.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/silmantech.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/silmantech.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/users\/3"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/silmantech.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=48147"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/silmantech.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/48147\/revisions"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/silmantech.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=48147"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/silmantech.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=48147"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/silmantech.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=48147"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}